可程式溫濕度環(huán)境檢測芯片恒溫恒濕試驗箱
簡要描述:可程式溫濕度環(huán)境檢測芯片恒溫恒濕試驗箱2.溫度波動度: ≤±0.5℃3.溫度均勻度:≤±2℃4.濕度范圍:20~98%R.H5.濕度偏差:±3%R.H恒溫恒濕試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各項性能指標(biāo)。
產(chǎn)品型號: SME-150PF
所屬分類:150L恒溫恒濕試驗箱
更新時間:2024-06-30
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
可程式溫濕度環(huán)境檢測芯片恒溫恒濕試驗箱
1.溫度范圍: A:0℃~150℃,B:-20℃~150℃,C:-40℃~150℃,D:-60℃~150℃,E:-70℃~150℃
2.溫度波動度: ≤±0.5℃
3.溫度均勻度:≤±2℃
4.濕度范圍:20~98%R.H
5.濕度偏差:±3%R.H
6.濕度波動:±2.5%R.H
7.精度范圍: 溫度:設(shè)定精度±0.1℃,指示精度±0.1℃,解析度±0.1℃;濕度:設(shè)定精度±1%R.H,指示精度±1%R.H,解析度±1%R.H
8.升溫速率: 1.0~3.0℃/min
9.降溫速率: 0.7~1.0℃/min
制冷系統(tǒng):
制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機。
冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。
采用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計,風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時間快。
高低溫交變濕熱試驗箱升溫、降溫、加濕系統(tǒng)*獨立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。
箱體結(jié)構(gòu)
體采用數(shù)控機床加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便。
箱體內(nèi)膽采用進口高級不銹鋼(SUS304)鏡面板。
箱體外膽采用A3鋼板噴塑,增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。
補水箱置于控制箱體右下部,并有缺水自動保護,更便利操作者補充水源。
大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮,且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃,隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
加濕系統(tǒng)管路與控制線路板分開,可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障,提高安全性。
水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)則采用門式開啟,方便維護和檢修。
箱體保溫采用超細(xì)玻璃纖維保溫棉,可避免不必要的能量損失。
箱門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉。
可程式溫濕度環(huán)境檢測芯片恒溫恒濕試驗箱
溫濕度恒溫恒濕環(huán)境試驗箱訂制
結(jié)構(gòu)簡介
1、試驗箱設(shè)計*,箱體采用數(shù)控機床加工成型,并采用無反作用把手,操作容易。
2、試驗箱內(nèi)膽為SUS304優(yōu)質(zhì)不銹鋼拉絲板,外殼為A3板表面進行噴塑處理。
3、水路系統(tǒng)和電路系統(tǒng)側(cè)采用門式開啟,方便維護和檢修。
4、保溫系統(tǒng)采用超細(xì)玻璃纖維填充保溫區(qū),內(nèi)外膽連接部位采用非金屬耐高、 低溫材料,有效降低溫度傳導(dǎo);箱門密封采用精制硅橡膠,從而在高、低溫狀況下不存在老化及硬化現(xiàn)象,密封性更可靠。
5、加濕方式采用隔離式加濕。
GJB 150.3-1986高溫試驗
GJB 150.4-1986低溫試驗
IEC 68-2-1試驗A;寒冷(GB/T2423.1-2001試驗A:低溫試驗方法)
IEC 68-2-2試驗B:干熱(GB/T2423.2-2001試驗B:高溫試驗方法)
IEC 60068-2-78試驗Cab:恒定濕熱試驗IEC 68-2-30試驗Db及導(dǎo)則:交變濕熱實驗(GB/T2423.4-1993試驗Cb:交變濕熱)